Dział Nauki o Promieniowaniu X (XSD) w Narodowym Laboratorium Argonne zaprasza do składania aplikacji na stanowisko badacza postdoktorskiego. Rola ta wiąże się z rozwojem zaawansowanych metod dyfrakcji rentgenowskiej do obrazowania trójwymiarowego. Wybrany kandydat poprawi jakość rozdzielczości przestrzennej mikroskopii dyfrakcyjnej z wykorzystaniem wysokoenergetycznego promieniowania X (HEDM)[1] w Źródle Zaawansowanego Fotonu (APS), wykorzystując jego wysoki blask i spójność. Ta technika zostanie użyta do badania materiałów napromieniowanych.
Przez ostatnie dwie dekady, linia wiązki APS 1-ID była czołowym liderem globalnym w rozwoju technik obrazowania z wykorzystaniem wysokoenergetycznego promieniowania X. Te techniki nie niszcząco dostarczają danych o mikrostrukturze i stanie mikromechanicznym materiałów polikrystalicznych na poziomie mezoskali. Współpracując z innymi badaczami z ANL, udowodniono również możliwość wykorzystania wysokoenergetycznego dyfrakcyjnego obrazowania koherentnego Bragg'a (HE-BCDI), które dostarcza informacji na skalę nanometrową i zostanie znacznie udoskonalone dzięki projektowi modernizacji APS (APS-U).
Z nową linią wiązki Mikroskopu Rentgenowskiego Wysokiej Energii (HEXM) na 20-ID, planowaną do uruchomienia jako część APS-U w końcu kwietnia 2024 roku, poszukujemy badacza postdoktorskiego, który odegra kluczową rolę w dalszym rozwoju HE-BCDI i integracji go z HEDM. Przewiduje się, że to zintegrowane urządzenie na HEXM będzie używane do charakteryzacji materiałów polikrystalicznych i ich cech hierarchicznych, na skalach od makroskopowych po nanometrowe. Szczególnie zainteresowane jesteśmy wykorzystaniem tego innowacyjnego urządzenia do zrozumienia, jak napromieniowanie wpływa na wytrzymałość materiału i akumulację uszkodzeń.
Osoba na tym stanowisku będzie współpracować z badaczem postdoktorskim zatrudnionym na podstawie wniosku nr 416675 i wielodyscyplinarnym zespołem naukowców z Argonne z różnych działów, w tym XSD, Działu Nauki o Materiałach, Działu Nauki i Inżynierii Jądrowej oraz Działu Materiałów Stosowanych. Ich zadaniem będzie skonstruowanie ram badawczych sterowanych symulacją, zdolnych do realizacji zagadnień powiększenia/pomniejszenia w celu analizy wpływu napromieniowania na materiały strukturalne, sterowanych przez symulację materiałów.
[1] https://www.osti.gov/biblio/1662034.